ODTÜ · Güneş Enerjisi Uygulama ve Araştırma Merkezi

H0071

Yüksek çözünürlüklü taramalı elektron mikroskobu ile yüzey yapısal ve morfolojik özelliklerin tayini (SEM)

Yüzey analizi SEM ölçümünde, Yüksek çözünürlüklü taramalı elektron mikroskobu ile yüzeyin yapısal ve morfolojik özelliklerin tayininin yanı sıra katman kalınlıkları da belirlenir

Fiyat3.250,19 ₺/ Adet

Yüzey analizi SEM ölçümünde, Yüksek çözünürlüklü taramalı elektron mikroskobu ile yüzeyin yapısal ve morfolojik özelliklerin tayininin yanı sıra katman kalınlıkları da belirlenir