H0070

Taramalı Elektron Mikroskop (SEM)

Yan kesit SEM ölçümünde, Yüksek çözünürlüklü taramalı elektron mikroskobu ile yankesitten yapısal ve morfolojik özelliklerin tayininin yanı sıra katman kalınlıkları da belirlenir

← Tüm hizmetler